Patricia Padilla

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Dra. Patricia Padilla Sosa (INAOE, 2002) [ppadilla@uv.mx].

Trabaja en el área de Metrología Óptica, específicamente en pruebas ópticas no destructivas; interferometria de patrones de moteado y holografía digital.

Ha impartido cursos a nivel licenciatura, dirigido 6 tesis de nivel licenciatura, publicado algunos artículos de investigación en revistas internacionales indexadas.

Actualmente es coordinadora del servicio social y formó parte del H. Consejo Técnico de la FFIA .

  • Competencias: Programación en Matlab. Simulación de problemas ópticos.

  • Conocimientos: Relacionados con el área de especialización (óptica).

  • Actitudes: Compromiso con el desarrollo de proyectos que fomenten el desarrollo científico. Disposición para el seguimiento de tutorados y egresados del programa de licenciatura.

  • Habilidades: Simulación en problemas del área de interferometría. Manejo de programas de cálculo simbólico (Matlab, Mathematica).

  • Valores: Tolerancia, honestidad, lealtad, perseverancia, prudencia, responsabilidad, y solidaridad.