<\/p>\n <\/p>\n Difracci\u00f3n de Rayos X Esta \u00e1rea alberga el equipo de difracci\u00f3n de rayos X, marca Bruker, modelo D8 Advance, en la cual se realizan los estudios estructurales de los materiales cristalinos, as\u00ed como el tipo de fase presente, el tama\u00f1o de grano y de manera cualitativa los esfuerzos y deformaciones presentes.<\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n Dureza y Tribolog\u00eda<\/strong><\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n Esta \u00e1rea cuenta con un microdurometro Vickers y un Microtrib\u00f3metro, equipos destinados para el an\u00e1lisis de propiedades mec\u00e1nicas de diferentes materiales, as\u00ed como el comportamiento del desgaste que va sufriendo un material, cuando es sometido a diferentes condiciones de desgaste.<\/p>\n Espectroscopia \u00d3ptica<\/strong><\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n Esta \u00e1rea alberga un sistema de espectroscop\u00eda de reflexi\u00f3n y transmisi\u00f3n. Sistema de espectroscop\u00eda de fibra \u00f3ptica UV-VIS-NIR, Marca: Semiconsoft, Modelo: M-Probe, rango espectral de 200-2200 nm, Software: TFCompanion-R, con control integrado y adquisici\u00f3n de datos para analizar pel\u00edculas delgadas.<\/p>\n Fabricaci\u00f3n de Nuevos Materiales<\/strong><\/p>\n![\"\"](\"https:\/\/www.uv.mx\/veracruz\/microna\/files\/2017\/12\/SEM.jpg\")
<\/a>Esta \u00e1rea alberga a un Microscopio Electr\u00f3nico de Barrido de Emisi\u00f3n de Campo Marca JEOL, modelo JSM-7600F, resoluci\u00f3n m\u00e1xima de 1 nm garantizados a 30 kV, 1.5 nm garantizados a 1.0 kV y 5 nm garantizados a 0.1 kV. Detector de electrones retrodispersados y secundarios y microan\u00e1lis EDS.. Con este equipo se puede realizar estudios morfol\u00f3gicos a niveles nanom\u00e9tricos as\u00ed como obtener la composici\u00f3n qu\u00edmica de los materiales fabricados.<\/p>\n
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